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材料X射线分析技术


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材料X射线分析技术
  • 书号:9787030759306
    作者:朱和国等
  • 外文书名:
  • 装帧:平装
    开本:16
  • 页数:292
    字数:486000
    语种:zh-Hans
  • 出版社:科学出版社
    出版时间:2023-09-01
  • 所属分类:材料工程
  • 定价: ¥79.00元
    售价: ¥51.35元
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    纸质书

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本书为工业和信息化部“十四五”规划教材,主要介绍晶体学基础与X射线在材料结构、形貌和成分方面的分析技术。其中,结构分析技术包括X射线的物理基础、衍射原理、物相分析、织构分析、小角散射与掠入射衍射分析、位错分析、层错分析、非晶分析、单晶体衍射与取向分析、内应力分析、点阵常数的测量与热处理分析等;形貌分析技术即三维X射线显微成像分析;成分分析技术包括特征X射线能谱、X射线光电子能谱及X射线荧光光谱等。书中研究和测试的材料主要包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料等。本书对每章内容做了提纲式的小结,并附有适量的思考题。书中采用一些作者尚未发表的图,同时在实例分析中引入一些当前材料领域最新的研究成果。
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    前言
    第1章 晶体学基础 1
    1.1 晶体及其基本性质 1
    1.1.1 晶体的概念 1
    1.1.2 空间点阵的四要素 1
    1.1.3 布拉维阵胞 2
    1.2 晶向、晶面及晶带 4
    1.2.1 晶向及其表征 4
    1.2.2 晶面及其表征 5
    1.2.3 晶带及其表征 6
    1.3 晶体的投影 6
    1.3.1 球面投影与极射赤面投影 7
    1.3.2 极式网与乌氏网 9
    1.3.3 晶带的极射赤面投影 11
    1.3.4 标准极射赤面投影图 13
    1.4 正点阵与倒易点阵 14
    1.4.1 正点阵 14
    1.4.2 倒易点阵 14
    1.4.3 正倒空间之间的关系 16
    1.4.4 倒易矢量的基本性质 17
    1.4.5 晶带定律 18
    1.4.6 广义晶带定律 19
    本章小结 20
    思考题 21
    第2章 X射线的物理基础 23
    2.1 X射线的性质 23
    2.1.1 X射线的产生 23
    2.1.2 X射线的本质 24
    2.2 X射线谱 26
    2.2.1 X射线连续谱 26
    2.2.2 X射线特征谱 28
    2.3 X射线与物质的相互作用 31
    2.3.1 X射线的散射 32
    2.3.2 X射线的吸收 33
    2.3.3 吸收限的作用 36
    本章小结 38
    思考题 38
    第3章 X射线的衍射原理 40
    3.1 X射线的衍射方向 40
    3.1.1 劳厄方程 40
    3.1.2 布拉格方程 41
    3.1.3 布拉格方程的讨论 43
    3.1.4 衍射矢量方程 46
    3.1.5 布拉格方程的埃瓦尔德图解 47
    3.1.6 布拉格方程的应用 48
    3.1.7 常见的衍射方法 48
    3.2 X射线的衍射强度 50
    3.2.1 单电子对X射线的散射 50
    3.2.2 单原子对X射线的散射 52
    3.2.3 单胞对X射线的散射 54
    3.2.4 单晶体的散射与干涉函数 60
    3.2.5 单相多晶体的衍射强度 64
    3.2.6 影响单相多晶体衍射强度的其他因子 65
    本章小结 69
    思考题 71
    第4章 X射线的物相分析 73
    4.1 X射线衍射仪 73
    4.1.1 测角仪 73
    4.1.2 计数器 75
    4.1.3 计数电路 76
    4.1.4 X射线衍射仪的常规测量 77
    4.2 X射线物相分析原理 78
    4.2.1 物相的定性分析 78
    4.2.2 物相的定量分析 88
    本章小结 93
    思考题 93
    第5章 晶粒尺寸与多晶体内应力的测量 95
    5.1 晶粒尺寸的测量 95
    5.1.1 晶粒细化的衍射效应 95
    5.1.2 谢乐公式 95
    5.2 多晶体内应力的测量 97
    5.2.1 多晶体内应力的产生、分类及其衍射效应 97
    5.2.2 多晶体宏观应力的测量原理 97
    5.2.3 多晶体宏观应力的测量方法 100
    5.2.4 多晶体宏观应力常数K的确定 104
    5.2.5 多晶体微观应力的测量 105
    5.3 Ka双线分离 106
    5.3.1 Rachinger图解法 106
    5.3.2 傅里叶级数变换法 108
    5.4 衍射峰的线形分析 109
    5.4.1 衍射线形的卷积合成 109
    5.4.2 积分宽度的卷积关系 109
    5.5 衍射峰物理宽化的测量 110
    5.5.1 傅里叶变换法 110
    5.5.2 近似函数法 112
    5.6 微观应力宽度与晶粒细化宽度的分离 113
    5.6.1 近似函数法 114
    5.6.2 方差分解法 115
    5.6.3 微观应力和晶粒尺寸的测量步骤 116
    5.7 应用举例分析 117
    5.7.1 合金元素对高熵合金衍射峰的影响 117
    5.7.2 合金组元对高熵合金衍射峰的影响 120
    本章小结 122
    思考题 123
    第6章 单晶体的结构、取向与宏观残余应力分析 125
    6.1 单晶体的结构分析 125
    6.1.1 四圆单晶衍射仪 125
    6.1.2 面探测器单晶衍射仪 126
    6.1.3 单晶结构的分析步骤 127
    6.1.4 四圆单晶衍射仪的衍射几何 128
    6.1.5 衍射几何转换矩阵 131
    6.2 单晶体的取向分析 133
    6.2.1 单晶体的取向表征 133
    6.2.2 单晶体的取向测定 136
    6.3 单晶体的宏观残余应力分析 140
    6.3.1 测量方法 141
    6.3.2 测量原理 141
    6.4 应用举例分析 148
    6.4.1 单晶铁的定向 148
    6.4.2 单晶铁的应力测量 149
    本章小结 150
    思考题 151
    第7章 织构分析 152
    7.1 织构及其表征 152
    7.1.1 织构与分类 152
    7.1.2 织构的表征 152
    7.2 丝织构的测定与分析 155
    7.2.1 丝织构衍射花样的几何图解 155
    7.2.2 丝织构指数的照相法确定 157
    7.2.3 丝织构取向度的计算 157
    7.2.4 丝织构指数的衍射法测定 157
    7.3 板织构的测定与分析 159
    7.3.1 极图测定与板织构分析 159
    7.3.2 反极图测定与板织构分析 167
    7.3.3 三维取向分布函数测定 169
    本章小结 171
    思考题 171
    第8章 X射线小角散射与掠入射衍射分析 173
    8.1 X射线小角散射 173
    8.1.1 X射线小角散射的基本原理 173
    8.1.2 X射线小角散射的体系 175
    8.1.3 X射线小角散射的强度 175
    8.1.4 X射线小角散射实验 186
    8.1.5 X射线小角散射技术的特点 188
    8.1.6 X射线小角散射技术的应用 188
    8.2 掠入射X射线衍射分析 192
    8.2.1 掠入射X射线衍射原理 192
    8.2.2 掠入射X射线衍射的应用 194
    本章小结 196
    思考题 197
    第9章 位错分析 198
    9.1 对位错分析用X射线的基本要求 198
    9.2 X射线线形分析法 199
    9.2.1 衍射谱峰宽法 199
    9.2.2 全谱拟合法 203
    9.3 应用举例分析 204
    本章小结 207
    思考题 207
    第10章 层错分析 208
    10.1 层错的概述 208
    10.1.1 层错的定义 208
    10.1.2 层错能 208
    10.1.3 层错的分类 209
    10.1.4 扩展位错 210
    10.1.5 层错概率 211
    10.1.6 层错图像 211
    10.2 不同晶体结构的层错概率 212
    10.2.1 FCC结构 212
    10.2.2 HCP结构 213
    10.2.3 BCC结构 214
    10.3 FCC结构中的层错能分析 215
    10.4 层错概率的测定方法 217
    10.4.1 峰位移法 218
    10.4.2 峰宽化法 218
    10.5 复合层错概率计算层错能 219
    10.6 应用举例分析 220
    本章小结 222
    思考题 223
    第11章 非晶分析 224
    11.1 非晶态物质结构的主要特征 224
    11.2 径向分布函数 224
    11.2.1 单元径向分布函数 224
    11.2.2 多元径向分布函数 229
    11.2.3 径向分布函数的测定 230
    11.3 非晶态物质的结构常数及其表征 234
    11.4 非晶态物质的晶化 235
    11.4.1 晶化过程 235
    11.4.2 结晶度测定 236
    11.5 应用举例分析 237
    11.5.1 非晶合金中结构的弛豫分析 237
    11.5.2 结晶度与晶粒尺寸分析 238
    11.5.3 非晶晶化过程分析 240
    本章小结 241
    思考题 242
    第12章 成像分析 243
    12.1 X射线计算机断层成像原理 243
    12.1.1 投影切片定理 243
    12.1.2 滤波反投影 245
    12.2 三维X射线显微镜的结构 246
    12.2.1 工作原理 246
    12.2.2 高分辨X射线显微镜的结构 248
    12.3 三维X射线显微镜的应用 250
    本章小结 251
    思考题 252
    第13章 成分分析 253
    13.1 特征X射线能谱 253
    13.1.1 分光系统 253
    13.1.2 检测记录系统 255
    13.1.3 X射线能谱仪 256
    13.1.4 能谱仪与波谱仪的比较 257
    13.1.5 X射线能谱分析及应用 257
    13.2 X射线光电子能谱 259
    13.2.1 工作原理 260
    13.2.2 系统组成 260
    13.2.3 X射线光电子能谱及表征 262
    13.2.4 X射线光电子能谱仪的功用 264
    13.2.5 X射线光电子能谱的应用 266
    13.2.6 X射线光电子能谱的发展趋势 269
    13.3 X射线荧光光谱 269
    13.3.1 工作原理 269
    13.3.2 系统组成 270
    13.3.3 应用分析 271
    本章小结 271
    思考题 272
    第14章 点阵常数的测量与热处理分析 273
    14.1 点阵常数的测量 273
    14.1.1 测量原理 273
    14.1.2 误差源分析 273
    14.1.3 测量方法 274
    14.2 热处理分析 278
    14.2.1 马氏体转变过程的X射线衍射分析 278
    14.2.2 淬火温度与淬火速度对X射线衍射峰形的影响 280
    14.2.3 淬火钢中残余奥氏体的测量 281
    本章小结 284
    思考题 285
    参考文献 286
    附录 288
    附录1 常用物理常量 288
    附录2 质量吸收系数?m 288
    附录3 原子散射因子f 289
    附录4 原子散射因子校正值?f 290
    附录5 粉末法的多重因子Phkl 290
    附录6 某些物质的特征温度? 291
    附录7 德拜函数之值 291
    附录8 应力测定常数 291
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