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> X射线成像——基础、工业技术与应用
本书系统性地阐述了X射线成像技术的完整知识体系,涵盖从基础理论(如X射线物理原理、光子与物质相互作用)、技术方法(辐射源设计、探测器类型、辐射输运模拟、成像系统配置与优化、数字射线照相(DR)、计算机断层扫描(CT))到实际应用(航空航天零部件检测、货物安检、汽车制造监测、武器弹药表征、特殊核材料探测、文物与艺术品成像)的全链条内容,同时强调辐射剂量与安全防护(如剂量单位、屏蔽设计、线性无阈值(LNT)模型),并明确区分了工业与医学X射线成像的核心差异(如剂量关注度、探测器设计、动态范围)。本书还详细介绍了X射线成像技术的发展历程,从早期的X射线发现到现代工业CT的广泛应用,展现了这一技术在工业检测领域的革命性进步。书中不仅回顾了X射线成像技术的历史,还探讨了未来的发展趋势,包括分布式X射线源、先进算法以及新型探测器技术等。
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