本书系统阐述硅后验证和SoC调试中所面临的关键挑战、前沿技术与最新研究进展，旨在显著提升验证效率并降低调试成本。
本书汇集了硅后验证和调试专家的研究成果：第1章概述SoC设计方法学，并强调硅后验证和调试所面临的挑战；第2～6章描述设计调试架构的有效技术，包括片上设备和信号选择；第7～10章介绍生成测试和断言的有效技术；第11～15章提供自动化方法，用于定位、检测和修复硅后错误；第16～17章描述两个案例研究（NoC和IBM POWER8处理器）；第18章讨论设计调试与安全漏洞之间的内在冲突；第19章展望硅后验证与调试的未来发展趋势和潜在突破方向。
样章试读
目录
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第Ⅰ部分 概 述
第1章 SoC硅后验证的挑战 2
1.1 引言 2
1.2 验证工作 3
1.3 硅后验证准备规划 7
1.4 硅后验证与调试架构 7
1.5 测试生成 9
1.6 硅后调试 10
1.7 小结 11
参考文献 12
第Ⅱ部分 调试架构
第2章 SoC测试设备：面向硅后验证的硅前设计准备 16
2.1 引言 16
2.2 硅后验证规划与开发生命周期 17
2.3 测试设备的早期历史：DFT 19
2.4 跟踪 22
2.5 数组访问、触发和补丁 24
2.6 调试软件集成 26
2.7 小结 27
参考文献 28
第3章 硅后验证中的结构化信号选择 29
3.1 引言 29
3.2 相关工作 30
3.3 信号恢复 32
3.4 门级信号选择（GSS） 34
3.5 基于RTL的信号选择 39
3.6 实验 44
3.7 小结 46
参考文献 47
第4章 基于仿真的信号选择 49
4.1 介绍 49
4.2 相关工作 50
4.3 背景与动机 51
4.4 改进恢复能力指标 54
4.5 基于选择算法的设计 57
4.6 实验结果 59
4.7 小结 64
参考文献 65
第5章 混合信号选择 66
5.1 引言 66
5.2 基础知识 67
5.3 混合信号选择算法 68
5.4 小结 73
参考文献 74
第6章 基于机器学习的硅后信号选择 75
6.1 引言 75
6.2 背景 76
6.3 探索策略 77
6.4 基于机器学习的信号选择 79
6.5 基于特征的信号选择 84
6.6 不同信号选择技术的比较 88
6.7 小结 91
参考文献 92
第Ⅲ部分 测试和断言的生成
第7章 可观测性感知的硅后测试生成 94
7.1 引言 94
7.2 可观测性感知测试生成 96
7.3 案例研究 102
7.4 小结 103
参考文献 104
第8章 片上约束随机激励生成 106
8.1 硅后受约束的随机验证 106
8.2 功能约束的表示 107
8.3 片上功能约束生成器 109
8.4 功能约束的实验评估 111
8.5 片上验证期间的激励分布 114
8.6 非重叠序列的生成 115
8.7 片上激励支持分布式控制的变体 116
8.8 支持分布式控制的解决方案实验评估 119
8.9 小结 122
参考文献 123
第9章 测试生成和用于多核内存一致性的轻量级检查 124
9.1 引言 124
9.2 MTraceCheck：高效的内存一致性验证 128
9.3 实验评估 139
9.4 Bug注入案例研究 147
9.5 讨论 149
9.6 小结 150
致谢 150
参考文献 151
第10章 硅后验证硬件断言的选择 154
10.1 硬件断言 154
10.2 研究方法 155
10.3 排名算法 159
10.4 断言综合 163
10.5 基于FPGA 的仿真 166
10.6 结果与讨论 173
10.7 小结 177
致谢 177
参考文献 178
第Ⅳ部分 硅后调试
第11章 调试数据缩减技术 180
11.1 疲于奔命 180
11.2 常见的调试方法 181
11.3 运行-暂停调试的简化方案 182
11.4 全速调试的缩减技术 188
11.5 小结 195
参考文献 196
第12章 硅后故障的高级调试 197
12.1 动机与所提出的硅后方案调试流程 197
12.2 支持硅后分析与调试的基于C 语言的设计流程提案 198
12.3 在设计中引入少量可编程性 199
12.4 利用实现设计中的可编程性进行硅后分析 202
12.5 实施具备可编程性的设计修正 205
12.6 当出现硅后缺陷时自动调整高层次设计 208
12.7 小结 215
参考文献 216
第13章 基于可满足性求解器的硅后故障定位 217
13.1 引言 217
13.2 硅后故障定位 218
13.3 基于SAT 的故障定位实践 222
13.4 小结 232
致谢 232
参考文献 233
第14章 虚拟原型的硅后测试覆盖率评估与分析 235
14.1 引言 235
14.2 背 景 237
14.3 硅后测试的覆盖率评估 239
14.4 硅后测试的运行时间分析 250
14.5 相关工作 259
14.6 小结 259
参考文献 261
第15章 利用调试架构进行硅后覆盖率分析 262
15.1 引言 262
15.2 背 景 264
15.3 硅后功能的覆盖率分析 265
15.4 实验 270
15.5 小结 272
参考文献 273
第V部分 案例研究
第16章 片上网络验证与调试 276
16.1 引言 276
16.2 NoC概述 277
16.3 NoC验证与调试所面临的独特挑战 278
16.4 NoC验证与调试方法论 283
16.5 小结 288
参考文献 289
第17章 IBM POWER8处理器的硅后验证 291
17.1 引言 291
17.2 POWER8 292
17.3 统一方法学 293
17.4 测试程序 295
17.5 实验准备工作 297
17.6 触发Bug 298
17.7 检查Bug 299
17.8 覆盖率收敛 300
17.9 鉴别分类 302
17.10 调 试 303
17.11 成 果 305
17.12 未来挑战 307
17.13 小结 307
参考文献 308
第VI部分 回顾与未来方向
第18章 SoC安全与硅后调试冲突 310
18.1 引言 310
18.2 背景 310
18.3 基于扫描链的攻击 312
18.4 跟踪缓冲器攻击 313
18.5 实验结果 319
18.6 小结 323
参考文献 324
第19章 硅后调试的未来 326
19.1 回顾 326
19.2 未来的发展方向 328
参考文献 330
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