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X射线荧光光谱分析基础


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X射线荧光光谱分析基础
  • 书号：9787030198655
    作者：梁钰
  • 外文书名：
  • 装帧：平装
    开本：B5
  • 页数：
    字数：340000
    语种：中文
  • 出版社：科学出版社
    出版时间：2007-09
  • 所属分类：O65 分析化学
  • 定价： ￥32.00元
    售价： ￥25.28元
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　　本书是一本介绍X射线荧光光谱分析基础知识的书，阐述了X射线光谱分析的物理基础；波长色散型X射线荧光光谱仪的基本结构、部件工作原理；定性、半定量、定量、薄膜、镀层分析的相关理论、分析方法、干扰因素和校正方法以及各类分析样品的制样技术。本书还介绍了X射线荧光分析领域国内外近年的一些新进展，其中包括能量色散X射线荧光分析、全反射X射线荧光分析、同步辐射X射线荧光分析、微束X射线荧光分析及质子激发X射线分析等的原理、仪器和应用。书后附有常用的物理常数、参数及应用实例。
　　本书可做从事X射线荧光光谱分析人员的入门教材，也可为分析化学领域的科研人员、分析人员和大专院校学生提供有益的参考。
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目录

  • 前言
    第一章　X射线荧光光谱原理
    1.1 　概述
    1.2 　X射线和X射线光谱
    1.3 　特征荧光X射线
    1.4 　X射线的吸收和散射
    1.5 　X射线的分光
    1.6 　X射线荧光光谱分析的特点和应用
    第二章　波长色散X射线荧光光谱仪
    2.1 　仪器的组成
    2.2 　荧光X射线的激发
    2.3 　荧光X射线的分光
    2.4 　荧光X射线的探测和脉冲高度分析
    2.5 　测角仪
    2.6 　固定道背景自动扣除装置
    第三章　定性分析和半定量分析
    3.1 　定性分析
    3.2 　半定量分析
    3.3 　元素分布分析
    第四章　定量分析
    4.1 　概述
    4.2 　定量分析中的基体效应
    4.3 　基体效应的数学校正
    4.4 　实验校正法
    4.5 　定量分析的谱线干扰和校正
    4.6 　定量分析步骤
    4.7 　定量分析误差
    4.8 　定量分析管理
    4.9 　薄膜和多层膜分析
    第五章　取样、制样和样品保管
    5.1 　X射线荧光分析样品误差的类型
    5.2 　样品制备的一般方法
    5.3 　金属样品的取样和制样
    5.4 　粉末样品的取样和制样
    5.5 　熔融制样法
    5.6 　液体样品的取样和制样
    5.7 　特殊样品制样法
    5.8 　样品的保存
    第六章　能量色散及其他X射线荧光光谱分析方法
    6.1 　能量色散X射线荧光光谱分析
    6.2 　全反射X射线荧光光谱分析
    6.3 　同步辐射X射线荧光光谱分析
    6.4 　微束X射线荧光光谱分析
    6.5 　质子激发X射线分析
    参考文献
    附录1 　物理和化学基本常数
    附录2 　元素及化合物密度
    附录3 　吸收限波长和临界激发能量
    附录4 　特征X射线波长和能量
    附录5 　K壳层荧光产额ωk
    附录6 　K系伴线波长（Å）
    附录7 　K系线辐射跃迁几率
    附录8 　干扰谱线表
    附录9（a） 质量吸收系数（μ/ρ：cm2/g）
    附录9（b） 质量吸收系数（Mα、Mβ线）
    附录10 　熔融制样烧失量校正方法和实例
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