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晶体结构是了解固体材料性质的重要基础，X射线粉末衍射法是提供有关晶体结构信息的主要方法之一。本书除了扼要介绍X射线衍射的晶体学基础，化合物结构的晶体化学基本概念，X射线粉末衍射的实验方法，以及衍射线的位置和峰形及强度的测定外，比较系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化，点阵常数的精确测量，粉末衍射测定新型化合物晶体结构的各种方法及里特沃尔德法修正晶体结构，固溶体类型与超结构的测定，以及键价理论在离子晶体结构分析中的应用。重点阐述粉末衍射结构分析从头计算方法。
本书可供从事X射线晶体学和材料科学的科技工作者，以及高等院校有关专业的师生参考。
目录
- 第一章X射线衍射的晶体学基础
1.1晶体的基本特征
1.2晶体的宏观对称元素
1.3宏观对称元素的组合定理
1.432个晶体类型、点群和晶系
1.5点阵、晶面、晶向和晶带
1.6倒易点阵
1.714种布拉维(Bravais)点阵
1.8微观空间对称元素的组合
1.9空间群
1.10X射线衍射方程
参考文献
第二章化合物结构的晶体化学基础
2.1化合物分类和晶体结构类型概述
2.2密堆积理论和元素的晶体结构
2.3元素的原子半径、离子半径和共价半径
2.4原子的电负性、电离能和电子亲合能
2.5配位数与配位多面体
2.6离子晶体结构的鲍林经验规则
2.7影响晶体结构的因素
2.8晶体结构表示法
2.9同构型和多型性
2.10非化学计量化合物
参考文献
第三章X射线粉末衍射实验技术
3.1X射线源
3.2辐射波长与滤波片的选择
3.3粉末衍射照相机
3.4粉末衍射仪
3.5X射线探测器
3.6晶体聚焦单色器和衍射装置
3.7高低温X射线粉末衍射装置
3.8高压X射线粉末衍射装置
3.9中子衍射
参考文献
第四章粉末衍射法的屿形、位且和强度
4.1衍射线峰形
4.2衍射位置表示法
4.3X射线衍射强度
4.4中子衍射强度
45衍射强度的实验测定
参考文献
第五章粉末衍射图谱的指标化
5.1粉末衍射数据的惟一性、完备性和准确性
5.2新相所属晶系的确定
5.3立方晶系面指数标定法
5.4标定面指数的图解法
5.5标定面指数的解析法
5.6标定面指数的计算机程序法
5.7约化胞
5.8齐次轴与德莱尼(Delaunay)约化
5.9指标化结果正确性的判据
参考文献
第六章晶体点阵常数的精确测量
6.1精确测定晶体点阵常数的意义
6.2德拜-谢乐衍射几何系统误差的产生根源和消除方法
6.3Seemann-Bohlin准聚焦对称背反射型衍射几何的系统误差和消除方法
6.4平板背射型衍射几何误差的来源和消除方法
6.5布拉格-布伦塔诺衍射仪系统误差及其消除方法
6.6晶体点阵常数的精确测定
参考文献
第七章X射线粉末衍射法测定新相的晶体结构
7.1晶体结构粉末法测定的重要性和可能性
7.2新相晶体结构测定的基础
7.3晶体结构测定的经验方法
7.4计算机模拟技术的应用
7.5粉末衍射测定晶体结构的最大熵法
7.6粉末衍射结构分析的从头计算法
参考文献
第八章固溶体与超结构
8.1固溶体的类型
8.2固溶体类型和原子位置的实验测定
8.3金属合金固溶体的有序化和超结构
8.4化合物空位有序和组分有序
参考文献
第九章晶体结构修正和键价理论
9.1里特沃尔德衍射峰形拟合法概述
9.2里特沃尔德法发展概况
9.3粉末衍射线峰形函数
9.4里特沃尔德图形拟合法修正晶体结构策略
9.5晶体结构修正结果正确性的数值判据
9.6里特沃尔德法图形拟合修正结构常用的计算程
9.7修正过程常出现的问题和对策
9.8里特沃尔德法的应用
9.9里特沃尔德法的应用极限与仪器分辨率
9.10离子晶体的键价理论与晶体结构
参考文献
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