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粉末衍射法测定晶体结构(第二版)(上下册)


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粉末衍射法测定晶体结构(第二版)(上下册)
  • 书号:9787030304735
    作者:梁敬魁
  • 外文书名:
  • 装帧:平装
    开本:B5
  • 页数:660
    字数:832000
    语种:zh-Hans
  • 出版社:科学出版社
    出版时间:2011-03-01
  • 所属分类:O69 应用化学 O72 X射线晶体学
  • 定价: ¥198.00元
    售价: ¥156.42元
  • 图书介质:
    纸质书

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晶体结构是了解固体材料性质的重要基础,X射线粉末衍射法是提供有关晶体结构信息的主要方法之一.本书除了扼要介绍X射线衍射的晶体学基础、化合物结构的晶体化学基本概念、X射线粉末衍射的实验方法,以及衍射线的位置和峰形及强度的测定外,还比较系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化、点阵常数的精确测量、粉末衍射测定新型化合物晶体结构的各种方法及里特沃尔德(Rietveld)法全谱拟合修正晶体结构、固溶体类型与超结构的测定,以及键价理论在离子晶体结构分析中的应用.重点阐述粉末衍射结构分析从头计算方法.
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    第二版前言
    第一版序
    第一版前言
    第一章 X射线衍射的晶体学基础(1)
    §1.1 晶体的基本特征(1)
    §1.2 晶体的宏观对称元素(2)
    1.2.1 对称中心(2)
    1.2.2 对称面(反映面)(2)
    1.2.3 旋转对称轴(对称轴)(3)
    1.2.4 五次和高于六次的旋转对称轴不可能存在(5)
    1.2.5 旋转反演对称轴(6)
    1.2.6 旋转反映轴(8)
    1.2.7 宏观对称元素的图示(9)
    §1.3 宏观对称元素的组合定理(9)
    §1.4 32个晶体类型、点群和晶系(12)
    1.4.1 32个晶体类型的推导(12)
    1.4.2 点群(17)
    1.4.3 七种晶系(21)
    §1.5 点阵、晶面、晶向和晶带(21)
    1.5.1 空间点阵(21)
    1.5.2 阵点平面指数(22)
    1.5.3 空间点阵的阵点直线方向指数(24)
    1.5.4 晶带与晶带轴(25)
    1.5.5 晶棱与晶棱指数(25)
    1.5.6 晶面指数与晶棱指数的相互关系(26)
    1.5.7 同一晶带各个晶面的指数(27)
    §1.6 倒易点阵(27)
    1.6.1 倒易点阵概念(27)
    1.6.2 晶体正空间和倒易空间晶胞基本参数的关系(28)
    1.6.3 晶向与晶向、晶面与晶面、晶向与晶面间夹角的计算(30)
    §1.7 14种布拉维(Bravais)点阵(36)
    §1.8 微观空间对称元素的组合(40)
    1.8.1 晶体的微观对称元素(40)
    1.8.2 微观空间对称元素与周期平移的组合(43)
    1.8.3 微观空间对称元素之间的组合(52)
    1.8.4 微观对称元素与非初基平移的组合(59)
    §1.9 空间群(59)
    1.9.1 坐标系原点的选择(59)
    1.9.2 230个空间群(60)
    1.9.3 120个X射线衍射群(60)
    1.9.4 国际表中空间群应用的简要说明(62)
    §1.10 X射线衍射方程(76)
    1.10.1 布拉格(Bragg)衍射方程式(76)
    1.10.2 晶面间距与晶体点阵常数的关系(78)
    1.10.3 晶面间距与晶体倒易点阵晶胞参数的关系(79)
    参考文献(80)
    第二章 化合物结构的晶体化学基础(82)
    §2.1 化合物分类和晶体结构类型概述(82)
    2.1.1 二元和多元复杂化合物的组分分类(82)
    2.1.2 晶体结构类型的分类(84)
    2.1.3 晶体所属空间群分布的统计(86)
    §2.2 密堆积理论和元素的晶体结构(87)
    2.2.1 圆球密堆积在晶体结构中的意义(87)
    2.2.2 等径圆球六角和立方密堆积(88)
    2.2.3 圆球密堆积排列的空隙类型(89)
    2.2.4 多层密堆积的表示方法(90)
    2.2.5 圆球密堆积排列的点群和空间群(92)
    2.2.6 元素的晶体结构(94)
    §2.3 元素的原子半径、离子半径和共价半径(100)
    2.3.1 元素的原子半径(100)
    2.3.2 元素的离子半径(101)
    2.3.3 元素的共价半径(119)
    §2.4 原子的电负性、电离能和电子亲合能(121)
    2.4.1 原子的电负性(121)
    2.4.2 原子的电离能(124)
    2.4.3 原子的电子亲合能(126)
    §2.5 配位数与配位多面体(127)
    2.5.1 配位多面体类型(128)
    2.5.2 离子半径与配位多面体(129)
    2.5.3 配位多面体的连接方式(130)
    §2.6 离子晶体结构的鲍林经验规则(131)
    §2.7 影响晶体结构的因素(133)
    2.7.1 化学键类型(133)
    2.7.2 结构稳定性的几何因素(135)
    2.7.3 结构稳定性的热力学因素(150)
    2.7.4 结构稳定的电子浓度因素(156)
    2.7.5 极化对晶体结构的影响(159)
    §2.8 晶体结构表示法(160)
    2.8.1 带原子参数与无参数的结构(160)
    2.8.2 结构中原子间距与键角的计算(162)
    §2.9 同构型和多型性(163)
    2.9.1 同构型(isostrncture)和类质同形(somorphism)(163)
    2.9.2 多型性(potymorphism)和固态结构相变(164)
    2.9.3 多型性相变的热力学分类(165)
    2.9.4 多型性相变的结构分类(169)
    2.9.5 相变的压力和温度因素(175)
    §2.10 非化学计量化合物(176)
    2.10.1 非化学计量化合物形成原因(176)
    2.10.2 非化学计量化合物的类型(178)
    参考文献(183)
    第三章 X射线粉末衍射实验技术(186)
    §3.1 X射线源(186)
    3.1.1 X射线发生器(186)
    3.1.2 同步辐射X射线源(192)
    §3.2 辐射波长与滤波片的选择(194)
    3.2.1 辐射波长的选择(194)
    3.2.2 滤波片的选择(195)
    3.2.3 试样和滤波片荧光辐射的消除(197)
    §3.3 粉末衍射照相机(197)
    3.3.1 德拜-谢乐(Debye-Scherrer)照相法(199)
    3.3.2 西曼-玻林(Seemann-Bohlin)聚焦照相机(202)
    3.3.3 背散射平板照相机(204)
    §3.4 粉末衍射仪(205)
    3.4.1 布拉格-布伦塔诺(Bragg-Brentano)衍射仪(207)
    3.4.2 德拜-谢乐型衍射仪(210)
    3.4.3 西曼-玻林型衍射仪(212)
    §3.5 X射线探测器(213)
    3.5.1 气体电离计数器(213)
    3.5.2 闪烁计数器(218)
    3.5.3 半导体探测器(220)
    3.5.4 探测器的选择(223)
    §3.6 晶体聚焦单色器和衍射装置(226)
    3.6.1 严格单色X射线的获得(226)
    3.6.2 弯晶聚焦单色器类型(227)
    3.6.3 单色聚焦照相机(231)
    3.6.4 人射线单色化聚焦衍射仪(235)
    §3.7 高低温X射线粉末衍射装置(236)
    3.7.1 高温X射线粉末衍射装置(236)
    3.7.2 低温X射线粉末衍射装置(238)
    3.7.3 高低温单色聚焦照相机(239)
    §3.8 高压X射线粉末衍射装置(241)
    3.8.1 高压照相机(241)
    3.8.2 高压室试样压力的标定(245)
    §3.9 中子衍射(252)
    3.9.1 固定波长的中子粉末衍射(253)
    3.9.2 固定散射角连续波长的中子衍射(253)
    参考文献(254)
    第四章 粉末衍射法的峰形、位置和强度(258)
    §4.1 衍射线峰形(258)
    4.1.1 衍射线宽的来由(258)
    4.1.2 衍射线的峰形函数(258)
    4.1.3 衍射线的不对称函数(262)
    4.1.4 衍射线的峰宽函数(263)
    §4.2 衍射位置表示法(264)
    4.2.1 衍射线峰值位置 (264)
    4.2.2 衍射线重心位置(264)
    4.2.3 衍射线的积分强度中心位置(265)
    §4.3 X射线衍射强度(266)
    4.3.1 洛伦兹偏振因数(267)
    4.3.2 多重性因数(268)
    4.3.3 原子散射因数(270)
    4.3.4 结构因数(271)
    4.3.5 温度因数e-2M(273)
    4.3.6 吸收因数(275)
    4.3.7 初级消光和次级消光(286)
    4.3.8 择优取向的校正(287)
    4.3.9 衍射背底的校正(288)
    §4.4 中子衍射强度(289)
    4.4.1 热中子固定波长的衍射强度(289)
    4.4.2 连续波长脉冲中子衍射强度(290)
    §4.5 衍射强度的实验测定(292)
    4.5.1 测定衍射强度对试样的要求(292)
    4.5.2 探测器响应的非线性(294)
    4.5.3 计数器测量的统计精度(295)
    4.5.4 记录衍射强度方式(297)
    4.5.5 照相法衍射强度的测定(300)
    参考文献(303)
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