本书系统介绍了能量色散X射线荧光光谱分析所涉及的基础知识、探测器和激发源、不同类型（包括微束全聚焦、全反射等）谱仪的结构、谱处理技术、基体效应及校正、定性、半定量和定量分析测试技术、薄试样分析、样品制备、不确定度评定和标准方法及应用等。对现代能量色散和波长色散谱仪的性能作了较系统的比较，并对不同类型能量色散X射线荧光光谱在地质分析、电子电气产品中限用物质分析、文物分析和水泥原材料分析等领域的实际应用作了详细介绍。
本书基本概念清晰、图文并茂，通过实例阐述基本知识，又以基本原理解释实验现象，力求使能量色散X射线荧光光谱工作者知其所以然。本书可作为高等院校有关专业的教学用书，是从事X射线荧光光谱分析研究与应用人员和相关专业的研究者的一本有价值的参考书。
样章试读
目录
- 前言
绪论 能量色散和波长色散X射线荧光谱的比较
§0.1 概述
§0.2 WDXRF和EDXRF谱仪色散方法
§0.3 用于WDXRF和EDXRF比较的谱仪
§0.3.1 通用EDXRF谱仪
§0.3.2 偏振和高能偏振EDXRF谱仪
§0.4 WDXRF和EDXRF谱仪本身引起的谱线干扰
§0.5 检出限
§0.6 分辨率
§0.7 准确度和精密度
§0.8 分析时间
§0.9 EDXRF和WDXRF谱仪比较小结
§0.10 EDXRF和WDXRF谱仪合为一体的谱仪
参考文献
第一章 X射线荧光光谱物理学基础
§1.1 X射线的本质和定义
§1.2 X射线与物质的相互作用
§1.2.1 光电效应和特征X射线荧光辐射的产生
§1.2.2 X射线在物质中的吸收
§1.2.3 X射线在物质中的散射
§1.2.4 X射线在物质中的衍射
§1.2.5 偏振
§1.2.6 反射和折射
§1.3 莫塞莱(Moseley)定律
§1.4 荧光产额
§1.5 谱线分数
参考文献
第二章 激发和激发源
§2.1 X射线管
§2.1.1 X射线管的基本结构
§2.1.2 X射线管靶材的选择
§2.2 原级谱激发
§2.2.1 连续谱
§2.2.2 特征X射线
§2.3 二次靶激发
§2.3.1 X射线荧光靶
§2.3.2 巴克拉(Barkla)靶
§2.3.3 布拉格靶
§2.4 放射性核素激发源
§2.5 同步辐射光源
§2.6 质子激发
参考文献
第三章 探测器
§3.1 概述
§3.2 X射线探测器的主要技术指标
§3.2.1 探测效率
§3.2.2 能量分辨率
§3.2.3 探测器的峰背比和峰尾比
§3.3 能量探测器组成
§3.4 常用的探测器简介
§3.4.1 正比计数器
§3.4.2 闪烁计数器
§3.4.3 半导体探测器
参考文献
第四章 能量色散X射线荧光光谱仪结构
§4.1 概述
§4.2 通用型和手持式EDXRF谱仪测量单元
§4.3 微束EDXRF谱仪测量单元
§4.3.1 X射线透镜及其性能
§4.3.2 微束EDXRF谱仪结构
§4.4 偏振EDXRF谱仪测量单元
§4.5 全反射EDXRF谱仪测量单元
§4.5.1 全反射EDXRF谱仪理论基础
§4.5.2 全反射EDXRF谱仪结构
§4.6 测量单元中激发系统
§4.6.1 靶材的选择
§4.6.2 滤光片
§4.7 探测器
§4.7.1 探测器的选用
§4.7.2 探测器冷却系统
§4.8 记录单元
§4.8.1 前置放大器
§4.8.2 主放大器
§4.8.3 堆积脉冲排除器和基线恢复器
§4.8.4 模数转换器(ADC)和多道分析器(MCA)
参考文献
第五章 谱处理
§5.1 引言
§5.2 感兴趣区的设置和K_α/K_β强度比的应用
§5.3 基准谱在谱处理中的应用
§5.3.1 重叠谱的干扰因子
§5.3.2 最小二乘法拟合
§5.4 分析函数在谱处理中的应用
§5.4.1 谱拟合的基本概念
§5.4.2 背景谱处理
§5.4.3 X射线荧光特征谱的拟合
§5.5 偏最小二乘法
§5.5.1 算法
§5.5.2 偏最小二乘法的应用
参考文献
第六章 基体效应
§6.1 引言
§6.2 元素间吸收增强效应
§6.3 物理化学效应
§6.3.1 不均匀性效应
§6.3.2 不均匀性效应对分析结果的影响
§6.3.3 材料加工工艺的不同对分析结果产生的影响
§6.3.4 化学形态差异影响特征X射线强度变化的机理初探
参考文献
第七章 元素间吸收增强效应的校正
§7.1 引言
§7.2 基本参数法
§7.2.1 基本参数法的理论公式
§7.2.2 基本参数法的计算方法
§7.2.3 改善基本参数法分析结果准确度的途径
§7.3 理论影响系数法
§7.3.1 理论影响系数方程和理论影响系数的计算
§7.3.2 校准曲线和未知样的分析
§7.3.3 不同理论影响系数校正方程结果的比较
§7.4 经验影响系数法
§7.4.1 浓度校正模式
§7.4.2 强度校正模式
§7.4.3 经验系数的测定
§7.4.4 不同经验系数法分析结果的比较
§7.5 基本参数法和影响系数法的比较
§7.5.1 基本参数法和影响系数法分析合金钢
§7.5.2 结论
参考文献
第八章 散射线在校正基体效应中的应用
§8.1 引言
§8.2 散射线校正吸收效应的基本原理
§8.3 散射线在基体校正中的应用
§8.3.1 使用巴克拉靶时如何选择二次靶的康普顿线作内标
§8.3.2 使用散射线背景作内标校正样品中吸收效应和密度
§8.3.3 散射线在原位快速分析中的应用
参考文献
第九章 定性和半定量分析
§9.1 概述
§9.2 定性和半定量分析条件的设定
§9.3 定性分析步骤
§9.4 半定量分析的基本原理
§9.4.1 谱仪灵敏度因子
§9.4.2 RhK_α康普顿散射线的理论强度与测量强度的比较
§9.4.3 应用康普顿散射线分析谱仪不能测定的超轻元素
§9.5 RhK_α康普顿散射线的定量分析实例
§9.6 改善半定量分析结果准确度的方法
§9.6.1 校正楔子效应
§9.6.2 相似标样法
§9.6.3 相似标样法和康普顿散射线基本参数法联用
§9.6.4 熔融法
§9.6.5 归一化
§9.7 结论
参考文献
第十章 定量分析方法(1)——分析条件的设置
§10.1 概述
§10.2 取样和制样
§10.2.1 取样
§10.2.2 制样
§10.3 分析条件的选择
§10.3.1 通用型谱仪管电压的选择
§10.3.2 偏振型EDXRF谱仪二次靶和管电压的选择
§10.3.3 滤光片的选择
§10.3.4 待测元素特征谱的选择
参考文献
第十一章 定量分析方法(2)——校准曲线的制定
§11.1 概述
§11.2 校准曲线模式
§11.2.1 线性校准曲线
§11.2.2 理论影响系数法
§11.2.3 经验影响系数法
§11.2.4 基本参数法
§11.2.5 散射线内标法
§11.3 净强度
§11.4 校准曲线的制定
§11.4.1 一元线性回归分析在校准曲线中的应用
§11.4.2 主量、次量元素校准曲线的制定
§11.4.3 痕量元素校准曲线的制定
§11.5 定量分析方法的评价
§11.6 谱仪漂移校正
参考文献
第十二章 定量分析(3)——镀层和薄膜材料分析
§12.1 概述
§12.2 常规定量分析方法在单层样分析中的应用
§12.2.1 钢产品锌镀层的测量
§12.2.2 锌铁合金镀层分析
§12.3 基本参数法应用于多层镀膜分析
§12.4 三维共聚焦XRF谱仪用多层膜厚度分析
参考文献
第十三章 XRF定量分析中不确定度评定
§13.1 引言
§13.2 名词术语
§13.3 测量结果的分布
§13.4 测量不确定度
§13.4.1 测量不确定度的定义
§13.4.2 标准不确定度的A类评定
§13.4.3 标准不确定度的B类评定
§13.4.4 合成标准不确定度和有效自由度
§13.4.5 扩展不确定度
§13.5 测量不确定度的报告
§13.6 计数统计误差和光子计数的不确定度
§13.6.1 计数统计误差和光子计数的不确定度的计算
§13.6.2 XRF测定结果的不确定度评定
§13.7 异常数据的剔除
参考文献
第十四章 XRF标准方法
§14.1 概述
§14.2 标准的分类
§14.2.1 标准的分类方法
§14.2.2 我国标准和国际标准的关系
§14.3 我国标准的编号
§14.3.1 国家标准的编号
§14.3.2 行业标准的编号
§14.3.3 地方标准和企业标准的编号
§14.4 我国的XRF标准
§14.5 XRF国际标准
§14.6 标准物质
§14.6.1 标准物质的定义
§14.6.2 我国标准物质的分级、分类和编号
§14.6.3 我国的实物标准样品
参考文献
第十五章 样品制备
§15.1 概述
§15.2 固体块样的制备
§15.3 粉末和粉末压片的制备
§15.3.1 粉末对荧光强度的影响
§15.3.2 粉末的制备
§15.3.3 粉末试样的制备
§15.3.4 粉末压片的制备
§15.4 玻璃熔片的制备
§15.4.1 熔剂
§15.4.2 氧化物的酸度
§15.4.3 熔片中氧化物的溶解度
§15.4.4 坩埚和模具
§15.4.5 熔片的结晶
§15.4.6 熔片的爆裂
§15.4.7 脱模剂
§15.4.8 预氧化
§15.4.9 熔融
§15.5 其他样品制备方法
参考文献
第十六章 地质样品分析
§16.1 引言
§16.2 EDXRF谱仪在地质样品现场分析中的应用
§16.2.1 EDXRF谱仪在车载实验室中的应用
§16.2.2 EDXRF谱仪在原位分析中的应用
§16.3 EDXRF谱仪在实验室分析中的应用
§16.3.1 地质样品制备
§16.3.2 熔融法分析地质样品中主量、次量和痕量元素
§16.4 μ-EDXRF谱仪在地质分析中的应用
参考文献
第十七章 电子电气产品中限用物质分析
§17.1 概述
§17.2 样品制备
§17.3 RoHS筛选的方法
§17.3.1 半定量分析法
§17.3.2 黄铜试样中Cd和Pb的分析
§17.3.3 聚合物材料中Cr、Br、Hg、Cd和Pb的分析
参考文献
第十八章 文物分析
§18.1 引言
§18.2 EDXRF谱仪在文物分析中的应用
§18.2.1 μ-EDXRF谱仪在文物分析中的应用
§18.2.2 三维共聚焦μ-EDXRF谱仪在文物分析中的应用
§18.2.3 手持式EDXRF谱仪在文物分析中的应用
§18.2.4 高能偏振EDXRF谱仪在古陶瓷分析中应用
§18.3 EDXRF谱仪应用于古陶瓷断源、断代的必要条件
§18.4 小结
参考文献
第十九章 水泥原材料分析
§19.1 引言
§19.2 分析对象
§19.3 基体效应
§19.3.1 元素间吸收增强效应
§19.3.2 矿物结构效应
§19.3.3 颗粒度效应
§19.4 样品制备
§19.4.1 粉末压片法
§19.4.2 熔融片法
§19.4.3 标样的制备
§19.5 测定条件
§19.6 校准曲线的制定
§19.6.1 校准模式
§19.6.2 生料校准曲线
§19.6.3 石灰石校准曲线
§19.7 精密度
§19.8 准确度
参考文献
附录
京公网安备 11010102004214号